品牌	StellarNet	規(guī)格	RS50
供貨周期	一個(gè)月以上	主要用途	光譜化學(xué)分析、精密色度檢測(cè)、薄膜光學(xué)計(jì)量
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,電子/電池,綜合,機(jī)械設(shè)備

StellarNet RS50白色漫反射標(biāo)準(zhǔn)板產(chǎn)品概述：

RS50 為直徑 50mm 的 Halon 材質(zhì)白色漫反射標(biāo)準(zhǔn)板，搭配 R600 反射探頭開(kāi)展基準(zhǔn)校準(zhǔn)測(cè)量。該標(biāo)準(zhǔn)白板在 300–1700nm 光譜區(qū)間反射率大于 97%。

該標(biāo)準(zhǔn)白板采用優(yōu)質(zhì)Halon特種材質(zhì)精制而成，具備優(yōu)秀的朗伯漫反射特性，光線(xiàn)反射均勻度高，無(wú)明顯鏡面反射與散射偏差，能還原真實(shí)光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)。其光學(xué)性能優(yōu)異，在300–1700nm的寬光譜區(qū)間內(nèi)，整體反射率穩(wěn)定高于97%，光譜覆蓋紫外、可見(jiàn)、近紅外波段，適配絕大多數(shù)常規(guī)光學(xué)檢測(cè)場(chǎng)景，且波段內(nèi)反射性能一致性好，無(wú)明顯波動(dòng)衰減。同時(shí)材質(zhì)具備良好的穩(wěn)定性、耐候性與抗老化能力，不易受環(huán)境光照、溫濕度影響，可長(zhǎng)期反復(fù)使用，有效降低校準(zhǔn)耗材更換成本。

RS-HR 高反射鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)板RS-HR 高反射鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)板為鍍鏡面熔融石英標(biāo)準(zhǔn)件，適用于光學(xué)基底、涂層、金屬等高鏡面反射樣品檢測(cè)時(shí)作為校準(zhǔn)基準(zhǔn)。

StellarNet RS50白色漫反射標(biāo)準(zhǔn)板應(yīng)用領(lǐng)域：

主要應(yīng)用于光譜化學(xué)分析、精密色度檢測(cè)、薄膜光學(xué)計(jì)量等領(lǐng)域，可精準(zhǔn)完成樣品反射率、光譜特性、色彩參數(shù)的校準(zhǔn)與標(biāo)定工作。廣泛適用于材料光學(xué)性能測(cè)試、化工成分光譜分析、光電產(chǎn)品色度校準(zhǔn)、光學(xué)薄膜透光與反射性能檢測(cè)等科研實(shí)驗(yàn)及工業(yè)量產(chǎn)檢測(cè)場(chǎng)景，可為各類(lèi)光譜檢測(cè)、光學(xué)測(cè)量設(shè)備提供可靠的基準(zhǔn)參數(shù)，保障檢測(cè)數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)性、重復(fù)性。

TF-STD1 薄膜標(biāo)準(zhǔn)片（膜厚驗(yàn)證用）

TF-STD1 薄膜標(biāo)準(zhǔn)片用于膜厚檢測(cè)校準(zhǔn)驗(yàn)證；套件包含硅基底參考片，以及兩片分別鍍有 100 nm、1000 nm 二氧化硅薄膜的基底。另有 10 nm、10000 nm 規(guī)格薄膜標(biāo)準(zhǔn)片可單獨(dú)選購(gòu)。

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